Předmět zahrnuje metody elektronové, rentgenové a iontové spektroskopie, elektronové a hrotové mikroskopie a detektory a analyzátory. Důraz je kladen na principy spektroskopických metod a teoretický popis významných fyzikálních jevů se spektroskopiemi souvisejícími.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
The course covers X-ray, electron, and ion spectroscopies, electron and tip microscopies, and detectors and analysers. The stress is put on principles and theoretical description of fundamental phenomena governing the spectroscopies and microscopies.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Studenti budou umět:
Popsat a vysvětlit fyzikální jevy, na nichž jsou spektroskopie a mikroskopie založené.
Navrhnout vhodnou mikroskopickou nebo spektroskopickou metodu pro získání specifické informace o materiálu.
Zvolit vhodné analytické podmínky (detektor, analyzátor, primární zdroj, příprava vzorku) pro optimalizaci měření.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Students will be able to:
describe and explain physical phenomena on which the methods are based,
propose a suitable microscopic or spectroscopic method for extracting of specific information about material,
suggest proper analytical conditions, i.e. detector, analyser, primary source, sample preparation, to optimise measuring conditions.
Literatura -
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852
Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
Z: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
Z: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8
D: Vybrané publikace a webové odkazy
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
R: A. Beiser, Concepts of Modern Physics, Mc Graw-Hill, 1975, ISBN 0-07-115096-X
R: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
R: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
A: Selected papers and web pages
Studijní opory -
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Nejsou.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Metody výuky -
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Přednášky, konzultace.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Lectures, tutorials.
Sylabus -
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Spektrum, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, Rutherfordův rozptyl, fotoefekt.
Fyzika atomu, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. Elektronové a atomové hladiny, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.
Transmisní elektronová mikroskopie, princip, typy kontrastů, příprava vzorků.
Rastrovací elektronová mikroskopie, princip, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.
Rtg. mikroanalýza, princip, korekční metody.
Rtg. fluorescence, princip, korekční metody.
Povrch - vznik, struktura a vlastnosti. XPS a UV XPS, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie.
Vakuum a vakuová zařízení. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (19.11.2018)
Spectrum, cross section, properties of particles and radiation. Elastic and inelastic cross section, Compton scattering, Rutherford scattering, photoelectric effect.
Physics of of atom, electron-electron and spin-orbital interactions, splitting of spectral lines. Electron and atom energy levels, selection rules, energy bands in solid, Bloch function, quantum tunnelling.
Transmission electron microscopy, principles, contrast, sample preparations.
Scanning electron microscopy, principles, backscattered and secondary electrons, sample preparations.
Electron microprobe analysis, principle of the method, correction methods.