Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (14.04.2010)
Předmět shrnuje základní pojmy, vztahující se ke struktuře molekul a povrchové analýze. Postupně jsou probírány techniky povrchové analýzy, ať již prvkové, molekulové i morfologické, včetně mikroskopií blízkého pole. Dále pak je podán přehled o jednotlivých technikách strukturní analýzy a informacích, které o struktuře mohou poskytnout. Pozornost je věnována i aktuálním aplikacím jednotlivých technik. V řadě případů předmět navazuje na znalosti, které posluchači získali v základním kurzu Analytiká chemie I a II (absolvování těchto předmětů je doporučeno).
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (14.04.2010)
This subject comprises the basic terms, related to the molecular structure analysis and surface analysis. It brings a survey of individual techniques and offered information. Techniques of the surface analysis and imaging, including the scanning probe (near-field) microanalysis, are the second key part of this survey. In some cases it is an extension of knowledge gained in the basic courses of Analytical chemistry I and II.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (11.11.2012)
Studenti budou umět:
Popsat a vysvětlit principy a instrumentaci následujících metod: fotoelektronová spektroskopie, Augerova spektroskopie, rentgenová fluorescenční analýza, elektronová mikroskopie, mikroskopie skenující sondou, rentgenová, elektronová a neutronová difrakce, hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, infračervená a Ramanova mikrospektrometrie a NMR spektrometrie/relaxometrie se zaměřením na tuhou fázi.
Pro jednotlivé uvedené techniky uvést příklady praktických aplikací.
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (29.08.2013)
Students will be able to:
Describe and explain the principles and instrumentation of following techniques: photoelectron spectroscopy, Auger spectroscopy, X-ray fluorescence analysis, electron microscopy, scanning probe microscopy, X-ray, electron and neutron diffraction, secondary ion mass spectrometry, infrared and Raman microspectrometry and NMR spectrometry/relaxometry focusing on solids.
Know examples of practical applications of individual techniques of structural and surface analysis.
Literatura -
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (13.11.2012)
Z:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)
Z:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)
D:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)
D:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)
D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (04.09.2013)
R: R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)
Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)
A: Non-Destrictive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)
A: L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)
Studijní opory -
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (13.11.2012)
presentace k přednáškám - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (31.08.2013)
electronic materials - slides for lectures - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch
Sylabus -
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (14.04.2010)
1. Základní pojmy povrchové a strukturní analýzy
2. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů (XPS, UPS)
3. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů - Augerova spektroskopie
4. Metody elektronové mikroskopie a chemické analýzy (EDX, WDX)
5. Metody rastrovací mikroskopie (AFM, STM, SNOM)
6. Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů (SIMS)
7. Metody rentgenové difrakce
8. Elektronová a neutronová difrakce
9. Metody infračervené a Ramanovy spektrometrie
10. Infračervená a Ramanova mikrospektrometrie, mapování a zobrazování
11. Povrchem zesílená vibrační spektroskopie
12. Spektrometrie NMR a struktura molekul
13. Spektrometrie NMR v pevné fázi
14. NMR analýza v nehomogenních polích, mobilní NMR
Poslední úprava: TAJ402 (15.04.2010)
1. Fundamental terms
2. Structure and geometry of molecules
3. Symmetry, point groups
4. Linear and circular polarized electromagnetic radiation, chirooptical methods
5. Infrared and Raman spectroscopy
6. Microwave spectroscopy
7. NMR spectrometry
8. Mass spectrometry
9. Crystal structure
10. X-ray and electron diffraction
11. Surface analysis methods based on electron detection
12. Surface analysis methods based on ion detection
13. Surface analysis methods based on photon detection
14. Scanning microscopy methods
Studijní prerekvizity -
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (31.08.2013)
žádné
Poslední úprava: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr. (31.08.2013)