Termíny zkoušek - přihlašování
2
(verze: 224)
Zapisování do roku 2023/2024 zimní
Login :
Heslo :
Studijní Informační Systém
Stránka se načítá...
Aplikace
Termíny zkoušek - přihlašování
2
--:--
Přijímací řízení
x
Termíny zkoušek - přihlašování
2
Předměty
Prohlížet termíny
Váš prohlížeč nepodporuje JavaScript nebo je jeho podpora vypnutá. Některé funkce nemusejí být dostupné.
Anketu můžete vyplnit na
http://www.erudio.cz
Filtr:
Zobrazovat:
Typ:
všechny předměty
Fakulta:
---
Fakulta chemické technologie
Fakulta technologie ochrany prostředí
Fakulta potravinářské a biochemické technologie
Fakulta chemicko-inženýrská
Celoškolská pracoviště VŠCHT Praha
Katedra:
---
Děkanát FCHI (453)
Ústav analytické chemie (402)
Ústav chemického inženýrství (409)
Ústav fyzikální chemie (403)
Ústav fyziky a měřicí techniky (444)
Ústav matematiky, informatiky a kybernetiky (446)
Předmět:
---
Physics I - AB444003
Physics II - AB444004
Physics: Laboratory - AB444005
Fundamentals of Machinery - AB444006
Measurement in Environmental Protection - AM444007
Circular Dichroism Spectroscopy - AP444001
Plasma Physics - AP444003
Chemical Sensors - AP444004
Software Tools for Measurement and Control - AP444005
Organic Electronics and Photonics - AP444007
Physics of thin films and surfaces - AP444008
Optical and Electron Microscopy - AP444010
Fyzika A - B444001
Fyzika B - B444002
Fyzika I - B444003
Fyzika II - B444004
Laboratoř fyziky - B444005
Základy strojnictví - B444006
Měřicí a řídicí technika - B444007
Základy elektroniky - B444008
Laboratoř měřicí a řídicí techniky - B444009
Technologie a vlastnosti tenkých vrstev, tenkovrstvé sensory - B444010
Základy fyziky - B444011
Biofyzika - B444012
Sběr dat pomocí počítače a virtuální instrumentace - B444043
Základy fyziky pro bakaláře - CZV444001
Spektroskopie cirkulárního dichroismu - D444002
Měření technologických veličin - D444004
Chemické senzory - D444008
Programové prostředky pro měření a řízení - D444011
Úvod do fyziky plazmatu - D444012
Fyzika biosystémů - M444001
Programové prostředky pro měření a řízení - M444002
Fyzika III - M444003
Měřicí technika - M444006
Měření v ochraně životního prostředí - M444007
Senzory a senzorové systémy - M444008
Chemické senzory - M444009
Termografie a termodiagnostika - M444010
Optická a elektronová mikroskopie - M444011
Elektronika pro měřicí techniku - M444012
Technologie a vlastnosti senzorových vrstev - M444013
Metrologie fyzikálních veličin - M444014
Fyzika plazmatu - M444015
Základy strojnictví - N444005
Spektroskopie cirkulárního dichroismu - P444001
Fyzika plazmatu - P444003
Chemické senzory - P444004
Programové prostředky pro měření a řízení - P444005
Organická elektronika a fotonika - P444007
Fyzika tenkých vrstev a povrchů - P444008
Optická a elektronová mikroskopie - P444010
Vyučující:
---
Fišer Ladislav
Hofmann Jaroslav
Jirešová Jana
Urbanová Marie
Vrňata Martin
Vlastnosti:
jen budoucí
jen volné
Seznam:
denní
týdenní
Výsledků na stránku:
20
50
100
250
500
Kapacita
Předmět
Fakulta
Typ
Semestr
Datum
Hodina
Budova
Místnost
Garant termínu
Učitel
Odhlásit do
Zápis do
Přihlašování od
detail
10/10
Technologie a vlastnosti tenkých vrstev, tenkovrstvé sensory (B444010)
FCHI
zkouška
zimní
21.12.2023 - Čtvrtek
11:00
VŠCHT budova B
B31
444
Vrňata Martin prof. Dr. Ing.
20.12.2023 10:00
20.12.2023 10:00
předtermín
Výsledky
1-1
z
1
1
webmaster@vscht.cz
Studijní oddělení (studium@vscht.cz)
VŠCHT Praha
