|
|
|
||
|
Předmět podává přehled o metodách charakterizace částic, částicových soustav a mikrostruktur heterogenních materiálů, včetně nanočástic, nanokrystalických a nanoporézních materiálů. V první části jsou přesně definovány parametry velikosti, tvaru a uspořádání malých částic, zrn a pórů v mikrostruktuře materiálů, a podrobně je probrána statistika malých částic, zrn a pórů, včetně kvantilů, středních hodnot, momentů a momentových poměrů. V druhé části jsou detailně probrány jednotlivé metody charakterizace částic, zrn a pórů, od sedimentačních metod přes laserovou difrakci, dynamický rozptyl světla, obrazovou analýzu, rentgenovou difrakci, adsorpční metody a rtuťovou porozimetrii až k méně obvyklým metodám charakterizace částic a mikrostruktur. Zvláštní důraz je kladen na vyhodnocení planárních řezů mikrostruktury za použití stereologických vztahů a integrálních transformací ke korekci problému nahodilých řezů. Část předmětu se zabývá disperzními soustavami, včetně suspenzí a nanofluidů a metodami charakterizace jejich elektrokinetického chování. Předmět je vhodný pro studenty všech oborů a lze ho doporučit všem, v jejichž práci je nutno charakterizovat soustavy částic nebo mikrostruktury heterogenních materiálů.
Last update: Pabst Willi (07.12.2017)
|
|
||
|
Studenti budou umět: Správně používat všechny koncepty související s velikostí a tvarem částic, zrn a pórů. Správně interpretovat distribuce velikosti částic, zrn a pórů na základě statistiky malých částic. Používat správnou terminologii při prezentaci výsledků a rozumět teoretickým základům běžných metod charakterizace částic a mikrostruktur do té míry, která je nezbytná pro plné pochopení moderní literatury. Kvalifikovaně vybrat adekvátní metody charakterizace částic, částicových soustav a správně je používat. Správně aplikovat stereologické vztahy a integrální transformace ke korekci problému nahodilých řezů. Last update: Pabst Willi (07.12.2017)
|
|
||
|
R - Allen T.: Particle Size Measurement (two volumes, fifth edition). Chapman & Hall, London 1997. (ISBN 0-412-75350-2). R - van de Hulst H. C.: Light Scattering by Small Particles. Dover, New York 1981. (ISBN 0-486-64228-3). R - Xu R.: Particle Characterization - Light Scattering Methods. Kluwer Academic Publishers, Dordrecht 2000. (ISBN 1-4020-3-0357-9). R - Gregg S. J., Sing K. S. W.: Adsorption, Surface Area and Porosity (second edition). Academic Press, London 1982. (ISBN 0-12-300956-1). R - Russ J. C., Dehoff R. T.: Practical Stereology (second edition). Kluwer Academic, New York 2000. (ISBN 0-306-46476-4). Last update: Pabst Willi (01.08.2013)
|
|
||
|
1. Introduction (equivalent and statistical diameters) 2. Particle shape, particle surface, fractals 3. Particle packing, coordination numbers 4. Small particle statistics I: Basic types of distributions, quantiles, basic statistical parameters 5. Small particle statistics II: Analytical functions, moments, moment ratios 6. Sedimentation methods and shape characterization procedures 7. Laser diffraction I: Theory (Mie, Fraunhofer, Rayleigh) 8. Laser diffraction II: Practice 9. Other methods (electrozone sensing, dynamic light scattering / DLS, ELS, OPC) 10. Image analysis I: Free particles, quantitative shape determination 11. Image analysis II: Grains in polycrystalline materials, stereology 12. XRD grain size from line broadening 13. Adsorption methods (BET) 14. Suspensions, nanofluids and aerosols Last update: Pabst Willi (07.12.2017)
|
|
||
|
Pabst W., Gregorová E.: Characterization of particles and particle systems. VŠCHT Praha 2007 (accesssible via http://www.vscht.cz/sil/keramika/Characterization_of_particles/CPPS%20_English%20version_.pdf ). Last update: Pabst Willi (01.08.2013)
|
|
||
|
none Last update: Pabst Willi (01.08.2013)
|
| Teaching methods | ||||
| Activity | Credits | Hours | ||
| Účast na přednáškách | 1 | 28 | ||
| Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 0.5 | 14 | ||
| Příprava na zkoušku a její absolvování | 1.5 | 42 | ||
| 3 / 4 | 84 / 112 | |||
| Coursework assessment | |
| Form | Significance |
| Regular attendance | 40 |
| Examination test | 60 |