Students will be able to present:

Present distribution and basic characteristics of optical methods.

Present classification and basic characteristics of the methods using an electron beam.

Present classification and basic characteristic of spectroscopic methods.

Present classification and basic characteristics of the methods using solid-state probes.

Present classification and basic characteristics of ion and thermodynamic methods.

Studenti budou umět:

Rozdělení a základní charakteristiku optických metod

Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících elektronový svazek

Rozdělení a základní charakteristiku spektroskopických metod

Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících pevnolátkové sondy

Rozdělení a základní charakteristiku iontových a termodynamických metod

Written exam (100%).

Písemná zkouška (100%).

R: Hornyak, G.L., Introduction to Nanoscience, Chapter 3. Characterization Methods, CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.

R: Cao,G.: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159.

S.K. Kulkami: Nanotechnology: Principles and Practices (403 pp). Springer (2015), ISBN 978-3-319-09170-9.

Z: Williams, W.D., Carter, C.B., Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Materials Science, Springer ScienceţBusiness Media 2009, ISBN 978-0-387-76500-6

Z: Stuart, B. Analytical techniques in materials conservation, John Wiley & Sons Ltd, England, 2007, ISBN 978-0 470-01280-2

Z: Hornyak, G.L., Introduction to Nanoscience, Chapter 3. Characterization Methods, CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.

Z: Cao,G.: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159.

Z: Williams, W.D., Carter, C.B., Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Materials Science, Springer ScienceţBusiness Media 2009, ISBN 978-0-387-76500-6

Z: Stuart, B. Analytical techniques in materials conservation, John Wiley & Sons Ltd, England, 2007, ISBN 978-0 470-01280-2

Subject matter is regularly repeated and discussed with students at lectures. This ensures the continuous control level of students' knowledge and clarity of lectures. The assessment of knowledge level and grading requires successful completion of a written test at the end of the semester.

Probraná látka je pravidelně opakována a diskutována se studenty na přednáškách. Tímto způsobem je zajištěna průběžně kontrola úrovně znalostí studentů a srozumitelnosti přednášené látky.

Pro posouzení úrovně znalostí a udělení známky se vyžaduje úspěšné absolvování písemného testu na závěr semestru.

1. Introduction, overview of methods in terms of physical principles, an overview of methods in terms of the endpoints.

2. X-ray diffraction and absorption spectroscopy (XRD, SAXS, XAS, EXAFS-XANES-NEXAFS).

3. Electron diffraction (LEED, RHEED).

4. Electron microscopy (SEM, EPMA, EDS, TEM, SAED).

5. Volume, surface resistivity of materials, methods of measurement.

6. Hall effect, application of conductivity and Hall measurements for analytical purposes.

7. Surface probe microscopy (STM, AFM).

8. Methods based on the detection of ions (SIMS) and nuclear methods (RBS, ERDA, PIXE).

9. Spectroscopic methods I (XPS, AES).

10. Spectroscopic methods II (FTIR, MS SERS).

11. Methods for determining the size and size distribution of nanoparticles.

12. Methods of thermal analysis and calorimetry (DTA / DSC, dissolution calorimetry).

13. Surface properties, determination of surface energy (goniometry), electrokinetic analysis

14. Determination of physico-chemical characteristics (determination of density, viscosity, estimation methods).

1. Úvod, přehled metod z hlediska fyzikálních principů, přehled metod z hlediska sledovaných vlastností.

2. RTG difrakce a absorpční spektroskopie (XRD, SAXS, XAS, EXAFS-XANES-NEXAFS).

3. Elektronová difrakce (LEED, RHEED).

4. Elektronové mikroskopie (SEM, EPMA, EDS, TEM, SAED).

5. Objemová, plošná a povrchová rezistivita materiálů, metodika měření.

6. Hallův jev, využití vodivostních a Hallovských měření k analytickým účelům.

7. Mikroskopie se vzorkovací sondou (STM, AFM).

8. Metody založené na detekci iontů (SIMS) a jaderné metody (RBS, ERDA, PIXE).

9. Spektroskopické metody I(XPS, AES).

10. Spektroskopické metody II (FTIR, RS, SERS).

11. Metody pro stanovení velikosti a distribuce velikosti nanočástic.

12. Metody termické analýzy a kalorimetrie (DTA/DSC, rozpouštěcí kalorimetrie).

13. Povrchové vlastnosti, stanovení povrchové energie (goniometrie), elektrokinetická analýza

14. Stanovení fyzikálně-chemických charakteristik (stanovení hustoty, viskozity; odhadové metody).

Educational materials available at the teacher.

https://www.iic.cas.cz/~grygar/mapl.htm

http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=1334

http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=1334

https://www.iic.cas.cz/~grygar/mapl.htm

Výukové materiály k přednáškám k dispozici u vyučujícího.

N126026 Introduction to nanomaterials

N126026 Základy nanomateriálů