SubjectsSubjects(version: 916)
Course, academic year 2019/2020
  
Optical and Electron Microscopy - P444010
Title: Optická a elektronová mikroskopie
Guaranteed by: Department of Physics and Measurement (444)
Faculty: Faculty of Chemical Engineering
Actual: from 2019 to 2019
Semester: both
Points: 0
E-Credits: 0
Examination process:
Hours per week, examination: 3/0, other [HT]
Capacity: winter:unlimited / unknown (unknown)
summer:unknown / unknown (unknown)
Min. number of students: unlimited
Language: Czech
Teaching methods: full-time
Level:  
For type: doctoral
Note: can be fulfilled in the future
you can enroll for the course in winter and in summer semester
Guarantor: Vlček Jan Ing. Ph.D.
Is interchangeable with: AP444010
Examination dates   Schedule   
Annotation - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)
Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy.
Aim of the course - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)

Student bude umět:

Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.

Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.

Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop.

Literature - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304

Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585

Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167

Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769

Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006

Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220

Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859

Learning resources - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/

Syllabus - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (22.04.2020)

Přednášky:

1. Úvod a základy mikroskopických technik.

2. Limity pro mikroskopické zobrazení.

3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické.

4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální.

5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I.

6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů.

7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii.

8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací.

9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II.

10. EDX a WDX detektory a prvková analýza.

11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory.

12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I.

13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní.

14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II.

Entry requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Dr. Ing. (04.07.2018)

nejsou

Registration requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Dr. Ing. (04.07.2018)

nejsou

Course completion requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Dr. Ing. (04.07.2018)

Ústní zkouška

 
VŠCHT Praha