Oral exam.

Ústní zkouška

R: Kasap S.O., Principles of Electronic Materials and Devices, 2003, ISBN: 0-07-239342-4

R: G.L. Hornyak a kol.: Introduction to nanoscience. Chapter 3. Characterization methods. CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.

A: Waser R.(Ed.): Nanoelectronics and Information Technology, 2005, ISBN-13:978-3-527-40542-8

A: Cao: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159

Z: Kasap S.O., Principles of Electronic Materials and Devices, 2003, ISBN: 0-07-239342-4

Z: G.L. Hornyak a kol.: Introduction to nanoscience. Chapter 3. Characterization methods. CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.

D: Waser R.(Ed.): Nanoelectronics and Information Technology, 2005, ISBN-13:978-3-527-40542-8

D: Cao: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159

Lectures, Interactive discussions

přednášky, interaktivní diskuze

1. Structure of materials and possibilities of their surface modification

2. Effect of laser beam, construction of periodic structures and their application

3. Semiconductors and their properties

4. Methods of preparation of semiconductor materials and their modification

5. Thin layers and their advanced applications I

6. Thin layers and their advanced applications II

7. Dielectric materials and compounds based on carbon

8. Scanning probe microscopy and their application

9. Electron microscopy and lithographic techniques

10. Methods based on ion detection (SIMS) and nuclear methods (RBS)

11. Applications in electronics and tissue engineering

1. Struktura materiálů a možnosti jejich povrchové modifikace

2. Působení laserového svazku, konstrukce periodických struktur a jejich aplikace

3. Polovodiče a jejich vlastnosti

4. Metody přípravy polovodičových materiálů a jejich modifikace

5. Tenké vrstvy a jejich pokročilé aplikace I

6. Tenké vrstvy a jejich pokročilé aplikace II

7. Dielektrické materiály a sloučeniny na bázi uhlíku

8. Mikroskopie se vzorkovací sondou a jejich využití

9. Elektronová mikroskopie a litografické techniky

10. Metody založené na detekci iontů (SIMS) a jaderné metody (RBS)

11. Aplikace v elektronice a tkáňovém inženýrství

https://pubs.acs.org/journal/aamick

www.journals.elsevier.com/biomaterials

https://pubs.acs.org/journal/aamick

www.journals.elsevier.com/biomaterials

Students will know:

Possibilities of surface activation, modification and techniques for the preparation of thin films on solid substrates, with focus on applications in electronics and tissue engineering.

Theoretical basics in the field of interaction of solids with energy beam (plasma, laser, ion beam) and discussion of this knowledge in connection with applications.

Description of selected analytical methods from the point of view of their use for elemental, morphological and volume analysis, advantages and disadvantages for selected types of materials and applications.

Studenti budou umět:

Možnosti povrchové aktivace, modifikace a techniky pro přípravu tenkých vrstev na pevnolátkových substrátech se zaměřením na aplikace v elektronice a tkáňovém inženýrství.

Teoretické základy v oblasti interakce pevných látek s energetickými svazky (plasma, laser, iontový svazek) a diskuze těchto znalostí v souvislosti s aplikacemi.

Popsat vybrané analytické metody z hlediska jejich použití pro prvkovou, morfologickou a objemovou analýzu, výhody a nevýhody pro vybrané typy materiálů a aplikací.