Subjects

Your browser does not support JavaScript, or its support is disabled. Some features may not be available.

Optical and Electron Microscopy - M444011

Title:	Optická a elektronová mikroskopie
Guaranteed by:	Department of Physics and Measurement (444)
Faculty:	Faculty of Chemical Engineering
Actual:	from 2024
Semester:	winter
Points:	winter s.:4
E-Credits:	winter s.:4
Examination process:	winter s.:
Hours per week, examination:	winter s.:1/2, MC [HT]
Capacity:	unlimited / unlimited (unknown)
Min. number of students:	unlimited
State of the course:	taught
Language:	Czech
Teaching methods:	full-time
Teaching methods:	full-time
Level:
Note:	course can be enrolled in outside the study plan enabled for web enrollment

Guarantor:	Otta Jaroslav Ing.

Examination dates

Annotation - Czech

Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy.

Last update: VLCEKJ (27.04.2018)

Aim of the course - Czech

Student bude umět:

Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.

Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.

Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop.

Last update: VLCEKJ (27.04.2018)

Course completion requirements - Czech

Účast na laboratořích a exkurzích, protokoly z laboratorních cvičení.

Last update: VLCEKJ (27.04.2018)

Literature - Czech

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Last update: VLCEKJ (02.05.2018)

Syllabus - Czech

Přednášky:

1. Historie, teoretické základy, rozlišení.

2. Optické vady a jejich kompenzace.

3. Konstrukce optického mikroskopu.

4. Konstrukce konfokálního mikroskopu.

5. Snímací prvky CCD, CMOS, zdroje světla.

6. Interakce elektronu s pevnou látkou, zdroje elektronů.

7. Základy vakuové techniky, typy vývěv, měrky tlaku.

8. Konstrukce skenovacího elektronového mikroskopu.

9. Detektory používané v elektronové mikroskopii.

10. RTG analýza , princip EDX a WDX detektorů.

11. Doplňky SEM mikroskopů – nanomanipulátor, fokusovaný paprsek iontů.

12. Příprava vzorků pro SEM – naprašování, napařování , obecné zásady.

13. Konstrukce transmisního elektronového mikroskopu.

14. Příprava vzorků pro TEM – obecné zásady.

Last update: VLCEKJ (19.06.2018)

Learning resources - Czech

K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/predmety-magisterskeho-studia

Last update: VLCEKJ (27.04.2018)

Teaching methods
	Activity	Credits	Hours
	Účast v laboratořích (na exkurzi nebo praxi)	1	28
	Účast na přednáškách	0.5	14
	Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi	1.1	32
	Práce na individuálním projektu	1.4	38
		4 / 4	112 / 112