|
|
|
||
Aim of the course is to provide theoretical a practical basics and aspects of using an optical and electron microscopes for an effective application during measurement. Students will see the possibilities and restrictions of both microscopy techniques. They will know how to set optimal parameters for obtaining the best results. This course also includes explanations of automated image analysis. Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|
|
||
Students will be able to:
Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|
|
||
Oral exam Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|
|
||
Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304 Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585 Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764 Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3 Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167 Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769 Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006 Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220 Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859 Poslední úprava: VLCEKJ (30.08.2019)
|
|
||
1. Úvod a základy mikroskopických technik. 2. Limity pro mikroskopické zobrazení. 3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické. 4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální. 5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I. 6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů. 7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii. 8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací. 9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II. 10. EDX a WDX detektory a prvková analýza. 11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory. 12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I. 13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní. 14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II. Poslední úprava: Vrňata Martin (23.04.2020)
|
|
||
Available at course webpages:
https://ufmt.vscht.cz/index.php/en/electronic-aids Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|
|
||
N/A Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|
|
||
N/A Poslední úprava: VLCEKJ (28.11.2018)
|