Studenti budou znalí

• principů moderních nanoskopických technik

• možností aktuální instrumentace pro jednoltivé techniky

Students will be able to:

• describe the principles of nanoscopic techniques

• describe the current instrumentation of individual techniques

Z)Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

Z) Chapter 11 "Analytical Nanoscopic Techniques: Nanoscale Properties" by Daisuke Fujita in "Metrology and Standardization of Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations", Editor(s): Dr. Elisabeth Mansfield Dr. Debra L. Kaiser Daisuke Fujita Professor, Marcel Van de Voorde Professor,2017 Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Print ISBN:9783527340392 |Online ISBN:9783527800308 |DOI:10.1002/9783527800308. https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/9783527800308.ch11#

Z) Brožek J.: Fyzikální chemie polymerů, skripta VŠCHT Praha, 2019.

D)Bienkowski, Pawel; Trzaska, Hubert: Electromagnetic Measurements in the Near Field (2nd Edition), SciTech Publishing 2012, ISBN 978-1-891121-06-7, Electronic ISBN 978-1-62198-829-8, Retrieved from https://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpEMFE0002/electromagnetic-measurements/electromagnetic-measurements

D)Aktuálně publikované přehledové články i originální studie.

R) Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

R) Chapter 11 "Analytical Nanoscopic Techniques: Nanoscale Properties" by Daisuke Fujita in "Metrology and Standardization of Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations", Editor(s): Dr. Elisabeth Mansfield Dr. Debra L. Kaiser Daisuke Fujita Professor, Marcel Van de Voorde Professor,2017 Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Print ISBN:9783527340392 |Online ISBN:9783527800308 |DOI:10.1002/9783527800308. https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/9783527800308.ch11#

A)Bienkowski, Pawel; Trzaska, Hubert: Electromagnetic Measurements in the Near Field (2nd Edition), SciTech Publishing 2012, ISBN 978-1-891121-06-7, Electronic ISBN 978-1-62198-829-8, Retrieved from https://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpEMFE0002/electromagnetic-measurements/electromagnetic-measurements

A) Published review papers and current original studies.

1) Obecné principy mikroskopie se skenující sondou

2) Přehled technik mikroskopie se skenující sondou

3) Principy optických mikroskopií blízkého pole

4) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole ve viditelné oblasti - principy a instrumentace

5) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole ve viditelné oblasti - příklady aplikací

6) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole v infračervené oblasti - principy a instrumentace

7) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole v infračervené oblasti - příklady aplikací

8) Hrotem zesílená Ramanova spektroskopie - principy a instrumentace

9) Hrotem zesílená Ramanova spektroskopie - příklady aplikací

10) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole v terahertzové oblasti - principy a instrumentace

11) Mikroskopie a mikrospektroskopie blízkého pole v terahertzové oblasti - příklady aplikací

12) Superozlišená fluorescenční mikroskopie - stimulovaná emisní technika STED

13) Superozlišená fluorescenční mikroskopie - detekce jednotlivých fluoroforů

14) Elektronová nanoskopie

1) General principles of scanning probe microscopy

2) Overview of scanning probe microscopic techniques

3) Principles of scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM)

4) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in the visible region - principles and instrumentation

5) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in the visible region - examples of applications

6) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in the infrared region - principles and instrumentation

7) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in the infrared region - examples of applications

8) Tip-enhanced Raman spectroscopy - principles and instrumentation

9) Tip-enhanced Raman spectroscopy - examples of applications

10) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in THz region - principles and instrumentation

11) Scanning near-field optical microscopy and microspectroscopy in THz region - examples of applications

12) Super-resolution fluorescence microscopy - stimulated emission technique STED

13) Super-resolution fluorescence microscopy - detection of single fluorophores

14) Electron nanoscopy

elektronické materiály dostupné v doméně vscht.cz

electronic materials and files available on-line in the domain vscht.cz