|
|
|
||
Předmět seznamuje se základními mikroskopickými a spektroskopickými metodami používanými pro charakterizaci materiálů. Součástí předmětu je vybudování základního energetického obrazu atomů, molekul a pevných látek, fyzikální principy metod, provázání metod s přístroji a příprava vzorků.
Poslední úprava: Gedeon Ondrej (15.11.2012)
|
|
||
Studenti budou umět: Popsat energetické hladiny atomu a pevné látky Navrhnout mikroskopickou nebo spektroskopickou metodu pro získání specifické informace o materiálu Zvolit vhodné analytické podmínky (detektor, analyzátor, primární zdroj, příprava vzorku) Poslední úprava: Gedeon Ondrej (15.11.2012)
|
|
||
Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852 Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2 D: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0 D: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8
Poslední úprava: Gedeon Ondrej (06.08.2013)
|
|
||
1. Spektrum a jeho podstata, spektroskopické a mikroskopické metody, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. 2. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, fotoefekt. 3. Kvantová mechanika atomu, vodíkový atom, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. 4. Elektronové hladiny, atomové termy, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování. 5. Transmisní elektronová mikroskopie, typy kontrastů, bright-field a dark-field pozorování, příprava vzorků. 6. Rastrovací elektronová mikroskopie, kontrast, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků. 7. Rtg. mikroanalýza, EDS a WDS uspořádání, princip, kvalitativní a kvantitativní analýza, korekční metody, mapování. Rtg fluorescence. 8. Vznik, struktura a vlastnosti povrchů, fotoelektronová spektroskopie, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie, ultrafialová fotoelektronová spektroskopie. Augerova spektroskopie, princip, Augerova mikroskopie. 9. Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů pro pevnou fázi, rozptyl iontů, kinematický faktor, rozprašovací výtěžnost, pravděpodobnost ionizace, hloubkové profilování, SNMS 10. Iontové metody, kanálování, metoda PIXE, spektroskopie odražených iontů, rozptyl nízkoenergetických iontů. 11. Hrotové metody, princip. Tunelovací mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, optická mikroskopie v blízkém poli. 12. Difrakční metody, difrakce fotonů, elektronů a neutronů. Strukturní faktor. LEED a EBSD, neutronová difrakce, rtg. difrakce, prášková difrakce. 13. Vakuum a vakuová zařízení. Měření vakua, vakuové pumpy. Zdroje částic: fotonové, elektronové, iontové, neutronové. 14. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF analyzátor, další detektory a analyzátory. Poslední úprava: SMIDOVAL (14.12.2012)
|
|
||
Přednášky v elektronické formě Poslední úprava: Gedeon Ondrej (05.08.2013)
|
|
||
Matematika II Fyzika I Poslední úprava: Gedeon Ondrej (05.08.2013)
|
Zátěž studenta | ||||
Činnost | Kredity | Hodiny | ||
Účast na přednáškách | 1.5 | 42 | ||
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 1 | 28 | ||
Příprava na zkoušku a její absolvování | 2 | 56 | ||
Účast na seminářích | 0.5 | 14 | ||
5 / 5 | 140 / 140 |
Hodnocení studenta | |
Forma | Váha |
Zkouškový test | 80 |
Ústní zkouška | 20 |