Poslední úprava: Čejka Jan Ing. Ph.D. (20.02.2018)
Cílem předmětu je seznámit posluchače s několika speciánějšími aplikacemi rtg práškové difrakční analýzy - indexace práškového difraktogramu, Rietveldova analýza s aplikací na kvantitativní práškovou analýzou, stanovení amorfního podílu, stanovení velikosti krystalitů. Posluchači se naučí pokročilejší funkce programu HighScore Plus.
Poslední úprava: Kubová Petra Ing. (15.01.2018)
The aim is to teach students a few more sophisticated X-ray techniques for polycrystalline materials - indexing procedure for powder patterns, Rietveld analysis for quantitative phase determination, amorphous content determination, crystallite size determination. Students will learn more advanced features of HighScore Plus 3.0 program and search in the databases ICSD, CSD.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: Kubová Petra Ing. (23.02.2018)
Studenti budou umět:
Vyhledávat v databázi CSD a ICSD, vypočítat teoretický práškový difraktogram, kvantitativní fázovou analýzu Rietveldovou metodou, stanovit amorfní podíl v práškovém vzorku, stonovit velikost krystalitů.
Poslední úprava: Kubová Petra Ing. (15.01.2018)
Students will be able to:
perform search in the databases ICSD and CSD;
calculate theoretical powder pattren from structural data(X,Y,Z atomic positons);
1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus.
2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu.
3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku.
4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf.
5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD.
6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD.
7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep.
Poslední úprava: Kubová Petra Ing. (15.01.2018)
Students choose one of exercises mentioned below to solving:
1. Calculation of theoretical powder pattern from structural data(X,Y,Z atomic positons) using PDF4+ card or *.CIF file from ICSD or CSD - performed in program HighScore Plus 3.0.
2. Application of Rietveld analysis for quantitative phase determination
3. Application of Rietveld analysis for amorphous content determination.