|
|
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
|
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
Students will be able to:
|
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)
Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304 Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585 Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764 Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3 Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167 Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769 Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006 Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220 Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859 |
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
Available at course webpages:
https://ufmt.vscht.cz/index.php/en/electronic-aids |
|
||
Poslední úprava: Vrňata Martin prof. Dr. Ing. (23.04.2020)
1. Úvod a základy mikroskopických technik. 2. Limity pro mikroskopické zobrazení. 3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické. 4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální. 5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I. 6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů. 7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii. 8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací. 9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II. 10. EDX a WDX detektory a prvková analýza. 11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory. 12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I. 13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní. 14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II. |
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
N/A |
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
N/A |
|
||
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
Oral exam |