The course covers X-ray, electron, and ion spectroscopies, electron and tip microscopies, and detectors and analysers. The stress is put on principles and theoretical description of fundamental phenomena governing the spectroscopies and microscopies.
Last update: Pátková Vlasta (18.04.2018)
Předmět zahrnuje metody elektronové, rentgenové a iontové spektroskopie, elektronové a hrotové mikroskopie a detektory a analyzátory. Důraz je kladen na principy spektroskopických metod a teoretický popis významných fyzikálních jevů se spektroskopiemi souvisejícími.
Aim of the course -
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Students will be able to:
describe and explain physical phenomena on which the methods are based,
propose a suitable microscopic or spectroscopic method for extracting of specific information about material,
suggest proper analytical conditions, i.e. detector, analyser, primary source, sample preparation, to optimise measuring conditions.
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Studenti budou umět:
Popsat a vysvětlit fyzikální jevy, na nichž jsou spektroskopie a mikroskopie založené.
Navrhnout vhodnou mikroskopickou nebo spektroskopickou metodu pro získání specifické informace o materiálu.
Zvolit vhodné analytické podmínky (detektor, analyzátor, primární zdroj, příprava vzorku) pro optimalizaci měření.
Literature -
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
R: A. Beiser, Concepts of Modern Physics, Mc Graw-Hill, 1975, ISBN 0-07-115096-X
R: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
R: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
A: Selected papers and web pages
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852
Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
Z: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
Z: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8
D: Vybrané publikace a webové odkazy
Learning resources -
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Nejsou.
Teaching methods -
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Lectures, tutorials.
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Přednášky, konzultace.
Syllabus -
Last update: Kubová Petra Ing. (06.06.2018)
Spectrum, cross section, properties of particles and radiation. Elastic and inelastic cross section, Compton scattering, Rutherford scattering, photoelectric effect.
Physics of of atom, electron-electron and spin-orbital interactions, splitting of spectral lines. Electron and atom energy levels, selection rules, energy bands in solid, Bloch function, quantum tunnelling.
Transmission electron microscopy, principles, contrast, sample preparations.
Scanning electron microscopy, principles, backscattered and secondary electrons, sample preparations.
Electron microprobe analysis, principle of the method, correction methods.