PředmětyPředměty(verze: 877)
Předmět, akademický rok 2020/2021
  
Optická a elektronová mikroskopie - M444011
Anglický název: Optical and Electron Microscopy
Zajišťuje: Ústav fyziky a měřicí techniky (444)
Platnost: od 2020
Semestr: zimní
Body: zimní s.:4
E-Kredity: zimní s.:4
Způsob provedení zkoušky: zimní s.:
Rozsah, examinace: zimní s.:1/2 KZ [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen / neomezen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Pro druh: navazující magisterské
Poznámka: předmět je možno zapsat mimo plán
povolen pro zápis po webu
Garant: Vlček Jan Ing. Ph.D.
Anotace
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (27.04.2018)
Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy.
Výstupy studia předmětu
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (27.04.2018)

Student bude umět:

Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.

Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.

Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop.

Literatura
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (02.05.2018)

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Studijní opory
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (27.04.2018)

K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/predmety-magisterskeho-studia

Sylabus
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (19.06.2018)

Přednášky:

1. Historie, teoretické základy, rozlišení.

2. Optické vady a jejich kompenzace.

3. Konstrukce optického mikroskopu.

4. Konstrukce konfokálního mikroskopu.

5. Snímací prvky CCD, CMOS, zdroje světla.

6. Interakce elektronu s pevnou látkou, zdroje elektronů.

7. Základy vakuové techniky, typy vývěv, měrky tlaku.

8. Konstrukce skenovacího elektronového mikroskopu.

9. Detektory používané v elektronové mikroskopii.

10. RTG analýza , princip EDX a WDX detektorů.

11. Doplňky SEM mikroskopů – nanomanipulátor, fokusovaný paprsek iontů.

12. Příprava vzorků pro SEM – naprašování, napařování , obecné zásady.

13. Konstrukce transmisního elektronového mikroskopu.

14. Příprava vzorků pro TEM – obecné zásady.

Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (27.04.2018)

Účast na laboratořích a exkurzích, protokoly z laboratorních cvičení.

Zátěž studenta
Činnost Kredity Hodiny
Účast v laboratořích (na exkurzi nebo praxi) 1 28
Účast na přednáškách 0,5 14
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi 1,1 32
Práce na individuálním projektu 1,4 38
4 / 4 112 / 112
 
VŠCHT Praha