PředmětyPředměty(verze: 965)
Předmět, akademický rok 2024/2025
  
Methods of Structural and Surface Analysis - S402014
Anglický název: Methods of Structural and Surface Analysis
Zajišťuje: Ústav analytické chemie (402)
Fakulta: Fakulta chemicko-inženýrská
Platnost: od 2021
Semestr: zimní
Body: zimní s.:3
E-Kredity: zimní s.:3
Způsob provedení zkoušky: zimní s.:
Rozsah, examinace: zimní s.:2/0, Zk [HT]
Počet míst: neurčen / neurčen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: angličtina
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Je zajišťováno předmětem: AM402004
Garant: Matějka Pavel prof. Dr. RNDr.
Anotace - angličtina
This subject comprises the basic terms, related to the molecular structure analysis and surface analysis. It brings a survey of individual techniques and offered information. Techniques of the surface analysis and imaging, including the scanning probe (near-field) microanalysis, are the second key part of this survey. In some cases it is an extension of knowledge gained in the basic courses of Analytical chemistry I and II.
Poslední úprava: VED402 (18.09.2013)
Literatura - angličtina

Z:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)

Z:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)

D:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)

D:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)

D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

Poslední úprava: VED402 (18.09.2013)
Sylabus -

1. Fundamental terms

2. Structure and geometry of molecules

3. Symmetry, point groups

4. Linear and circular polarized electromagnetic radiation, chirooptical methods

5. Infrared and Raman spectroscopy

6. Microwave spectroscopy

7. NMR spectrometry

8. Mass spectrometry

9. Crystal structure

10. X-ray and electron diffraction

11. Surface analysis methods based on electron detection

12. Surface analysis methods based on ion detection

13. Surface analysis methods based on photon detection

14. Scanning microscopy methods

Poslední úprava: KNOBLOCL (13.03.2012)
Studijní opory - angličtina

electronic materials - slides for lectures - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch

Poslední úprava: VED402 (18.09.2013)
Výsledky učení - angličtina

Students will be able to:

Describe and explain the principles and instrumentation of following techniques: photoelectron spectroscopy, Auger spectroscopy, X-ray fluorescence analysis, electron microscopy, scanning probe microscopy, X-ray, electron and neutron diffraction, secondary ion mass spectrometry, infrared and Raman microspectrometry and NMR spectrometry/relaxometry focusing on solids.

Know examples of practical applications of individual techniques of structural and surface analysis.

Poslední úprava: VED402 (18.09.2013)
Studijní prerekvizity - angličtina

None.

Poslední úprava: VED402 (18.09.2013)
 
VŠCHT Praha