Oral exam

Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304

Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585

Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167

Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769

Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006

Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220

Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859

1. Introduction - basic microscopic techniques

2. Limits of microscopic techniques

3. Construction parameters of microscopes - I. Optical

4. Construction parameters of microscopes - II. Confocal

5. Detectors and sources of radiation in microscopy - I.

6. Electron microscopy - interactions of electrons, sources of electrons

7. Vacuum technique for elelctron microscopy

8. Construction parameters of microscopes - III. Electron scanning

9. Detectors and sources of radiation in microscopy - II.

10. EDX and WDX detectors and elemental analysis

11. Accessories for SEM microscopy - focused ion beams, manipulators

12. Preparation of samples for electron microscopy - I.

13. Construction parameters of microscopes - IV. Electron transmission

14. Preparation of samples for electron microscopy - II.

1. Úvod a základy mikroskopických technik.

2. Limity pro mikroskopické zobrazení.

3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické.

4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální.

5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I.

6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů.

7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii.

8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací.

9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II.

10. EDX a WDX detektory a prvková analýza.

11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory.

12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I.

13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní.

14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II.

Available at course webpages:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/en/electronic-aids

Students will be able to:

• explain the basics of electron and photon optics, lenses, lenses errors, interaction of electron with solid state, sample preparation principles – sputtering and evaporation, principles of automated image analysis.

• prepare a sample for scanning electron microscopy, for transmission electron microscopy.

• operate with optical and scanning electron microscope.

N/A

N/A