SubjectsSubjects(version: 877)
Course, academic year 2020/2021
  
Optical and Electron Microscopy - P444010
Title: Optická a elektronová mikroskopie
Guaranteed by: Department of Physics and Measurement (444)
Actual: from 2019
Semester: both
Points: 0
E-Credits: 0
Examination process:
Hours per week, examination: 3/0 other [hours/week]
Capacity: winter:unlimited / unknown (unknown)
summer:unknown / unknown (unknown)
Min. number of students: unlimited
Language: Czech
Teaching methods: full-time
Level:  
For type: doctoral
Note: you can enroll for the course in winter and in summer semester
Guarantor: Vlček Jan Ing. Ph.D.
Z//Is interchangeable with: AP444010
Annotation - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)
Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy.
Aim of the course - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)

Student bude umět:

Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.

Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.

Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop.

Literature - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304

Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585

Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167

Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769

Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006

Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220

Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859

Learning resources - Czech
Last update: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/

Syllabus -
Last update: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (23.04.2020)

1. Introduction - basic microscopic techniques

2. Limits of microscopic techniques

3. Construction parameters of microscopes - I. Optical

4. Construction parameters of microscopes - II. Confocal

5. Detectors and sources of radiation in microscopy - I.

6. Electron microscopy - interactions of electrons, sources of electrons

7. Vacuum technique for elelctron microscopy

8. Construction parameters of microscopes - III. Electron scanning

9. Detectors and sources of radiation in microscopy - II.

10. EDX and WDX detectors and elemental analysis

11. Accessories for SEM microscopy - focused ion beams, manipulators

12. Preparation of samples for electron microscopy - I.

13. Construction parameters of microscopes - IV. Electron transmission

14. Preparation of samples for electron microscopy - II.

Entry requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

nejsou

Registration requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

nejsou

Course completion requirements - Czech
Last update: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

Ústní zkouška

 
VŠCHT Praha