![]() | Ve dnech 1. 8 až 2. 8. nebude dostupné webové rozhraní Studijního informačního systému (SIS) z důvodu plánovaných servisních prací.
Dekujeme za pochopení a omlouváme se za případné problémy |
Vlček Jan Ing. Ph.D.
Adresa: | |
---|---|
Sídlo: | |
Telefon: | |
Fax: | |
E-Mail: | Jan.Vlcek@vscht.cz |
Další informace: | |
Fakulta: | Fakulta chemicko-inženýrská |
Katedra: | Ústav fyziky a měřicí techniky (444) |
Telefon: | |
E-mail: | |
Předměty |
![]() |
![]() ![]() | ![]() ![]() | ![]() ![]() | Rozsah, examinace | Katedra | Fakulta | 4EU+ | |
![]() |
P444008 | Fyzika tenkých vrstev a povrchů | oba | 2/1, Jiné [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
N402079 | Laboratoř charakterizace nano a mikrosystémů | zimní | zimní s.:0/4, KZ [HT] | 402 | FCHI | ne |
![]() |
N444020 | Laboratoř měřicí a řídicí techniky | letní | letní s.:0/3, KZ [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
N409073 | Laboratoř přípravy nano a mikromateriálů | zimní | zimní s.:0/4, KZ [HT] | 409 | FCHI | ne |
![]() |
M444006 | Měřicí technika | zimní | zimní s.:2/3, Zk [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
N444012 | Metrologie | letní | letní s.:2/3, Z+Zk [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
M444014 | Metrologie fyzikálních veličin | letní | letní s.:2/3, Z+Zk [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
AP444010 | Optical and Electron Microscopy | oba | 3/0, Jiné [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
P444010 | Optická a elektronová mikroskopie | oba | 3/0, Jiné [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
AP444008 | Physics of thin films and surfaces | oba | 2/1, Jiné [HT] | 444 | FCHI | ne |
![]() |
M444013 | Technologie a vlastnosti senzorových vrstev | zimní | zimní s.:3/1, Z+Zk [HT] | 444 | FCHI | ne |