|
|
|
||
Cílem předmětu je seznámit posluchače s několika speciánějšími aplikacem rtg práškové difrakční analýzy - indexace práškového difraktogramu, Rietveldova analýza s aplikací na kvantitativní práškovou analýzou, stanovení amorfního podílu, stanovení velikosti krystalitů. Posluchači se naučí pokročilejší funkce programu HighScore Plus.
Poslední úprava: TAJ108 (24.01.2012)
|
|
||
D: Odborné články k tématu Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)
|
|
||
Posluchači si vybírají z uvedených úloh k řešení: 1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus. 2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu. 3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku. 4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf. 5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD. 6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD. 7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep. Poslední úprava: SMIDOVAL (11.06.2013)
|
|
||
http://www.xray.cz/krystalografie/ Poslední úprava: Maixner Jaroslav (13.11.2012)
|
|
||
Studenti budou umět: Vyhledávat v databázi CSD a ICSD, vypočítat teoretický práškový difraktogram, kvantitativní fázovou analýzu Rietveldovou metodou, stanovit amorfní podíl v práškovém vzorku, stonovit velikost krystalitů. Poslední úprava: Čejka Jan (13.11.2012)
|
|
||
Matematika I Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)
|
Zátěž studenta | ||||
Činnost | Kredity | Hodiny | ||
Účast na přednáškách | 1 | 28 | ||
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 1 | 28 | ||
Příprava na zkoušku a její absolvování | 1.5 | 42 | ||
Účast na seminářích | 0.5 | 14 | ||
4 / 4 | 112 / 112 |
Hodnocení studenta | |
Forma | Váha |
Ústní zkouška | 100 |