|
|
|
||
|
Cílem předmětu je seznámit posluchače s několika speciánějšími aplikacem rtg práškové difrakční analýzy - indexace práškového difraktogramu, Rietveldova analýza s aplikací na kvantitativní práškovou analýzou, stanovení amorfního podílu, stanovení velikosti krystalitů. Posluchači se naučí pokročilejší funkce programu HighScore Plus.
Poslední úprava: TAJ108 (24.01.2012)
|
|
||
|
D: Odborné články k tématu Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)
|
|
||
|
Posluchači si vybírají z uvedených úloh k řešení: 1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus. 2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu. 3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku. 4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf. 5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD. 6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD. 7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep. Poslední úprava: SMIDOVAL (11.06.2013)
|
|
||
|
http://www.xray.cz/krystalografie/ Poslední úprava: Maixner Jaroslav (13.11.2012)
|
|
||
|
Studenti budou umět: Vyhledávat v databázi CSD a ICSD, vypočítat teoretický práškový difraktogram, kvantitativní fázovou analýzu Rietveldovou metodou, stanovit amorfní podíl v práškovém vzorku, stonovit velikost krystalitů. Poslední úprava: Čejka Jan (13.11.2012)
|
|
||
|
Matematika I Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)
|
| Zátěž studenta | ||||
| Činnost | Kredity | Hodiny | ||
| Účast na přednáškách | 1 | 28 | ||
| Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 1 | 28 | ||
| Příprava na zkoušku a její absolvování | 1.5 | 42 | ||
| Účast na seminářích | 0.5 | 14 | ||
| 4 / 4 | 112 / 112 | |||
| Hodnocení studenta | |
| Forma | Váha |
| Ústní zkouška | 100 |
