|
|
|
||
Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy. Poslední úprava: VLCEKJ (28.06.2018)
|
|
||
Ústní zkouška Poslední úprava: Vrňata Martin (04.07.2018)
|
|
||
Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304 Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585 Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764 Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3 Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167 Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769 Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006 Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220 Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859 Poslední úprava: VLCEKJ (30.08.2019)
|
|
||
Přednášky:
1. Úvod a základy mikroskopických technik. 2. Limity pro mikroskopické zobrazení. 3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické. 4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální. 5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I. 6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů. 7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii. 8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací. 9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II. 10. EDX a WDX detektory a prvková analýza. 11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory. 12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I. 13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní. 14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II. Poslední úprava: VLCEKJ (22.04.2020)
|
|
||
K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:
https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/ Poslední úprava: VLCEKJ (30.08.2019)
|
|
||
Student bude umět:
Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.
Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.
Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop. Poslední úprava: VLCEKJ (28.06.2018)
|
|
||
nejsou Poslední úprava: Vrňata Martin (04.07.2018)
|
|
||
nejsou Poslední úprava: Vrňata Martin (04.07.2018)
|