|
|
|
||
Cílem předmětu je seznámit posluchače s několika speciánějšími aplikacemi rtg práškové difrakční analýzy - indexace práškového difraktogramu, Rietveldova analýza s aplikací na kvantitativní práškovou analýzou, stanovení amorfního podílu, stanovení velikosti krystalitů. Posluchači se naučí pokročilejší funkce programu HighScore Plus.
Poslední úprava: Čejka Jan (20.02.2018)
|
|
||
Studenti budou umět: Vyhledávat v databázi CSD a ICSD, vypočítat teoretický práškový difraktogram, kvantitativní fázovou analýzu Rietveldovou metodou, stanovit amorfní podíl v práškovém vzorku, stonovit velikost krystalitů. Poslední úprava: Kubová Petra (23.02.2018)
|
|
||
Credit – evaluation of powder pattern with program HighScore Plus 3.0 Examination – written part - test, structure solution with program HighScore Plus 3.0, oral part Poslední úprava: Čejka Jan (20.02.2018)
|
|
||
Hahn, T.: International tables for crystallography, 1983. ISBN:90-277-1445-2 Poslední úprava: Kubová Petra (23.02.2018)
|
|
||
Posluchači si vybírají z uvedených úloh k řešení: 1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus. 2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu. 3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku. 4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf. 5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD. 6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD. 7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep. Poslední úprava: Kubová Petra (15.01.2018)
|
|
||
http://www.xray.cz/krystalografie/ Poslední úprava: Kubová Petra (15.01.2018)
|
Zátěž studenta | ||||
Činnost | Kredity | Hodiny | ||
Účast na přednáškách | 1 | 28 | ||
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 1 | 28 | ||
Příprava na zkoušku a její absolvování | 1.5 | 42 | ||
Účast na seminářích | 0.5 | 14 | ||
4 / 4 | 112 / 112 |