Předměty

Cílem předmětu je seznámit posluchače s kvalitativní a semikvantitativní fázovou analýzou. Hlavní náplní je naučit posluchače přípravu vzorku pro měření na práškovém difraktometru, naměření přáškového difraktogramu a kvalitativní vyhodnocení práškového difraktogramu programem HighScore Plus. Posluchači se naučí pracovat s programeme HighScore Plus a seznámí se s databází PDF4+.

Poslední úprava: TAJ108 (24.01.2012)

The aim is to teach students basic crystallographic knowledge, some application of X-ray techniques mainly for polycrystalline materials - qualitative and semiquantitative phase analysis. Students will learn to prepare polycrystalline specimen into a holder, to prepare program for X-ray data collection and to evaluate powder pattern in HighScore Plus 3.0 program. Students will learn to work with program HighScore Plus 3.0 and perform search-match in the database PDF4+.

Poslední úprava: TAJ108 (30.08.2013)

Studenti budou umět:

Orientace v základní krystalografii. Zpracování a vyhodnocení difraktogramů v programu Highscore.

Poslední úprava: Čejka Jan (13.11.2012)

Students will be able to:

apply basic crystallographic knowledge;

evaluate powder patterns using HighScore Plus 3.0 program.

Poslední úprava: TAJ108 (30.08.2013)

D: Studijní materiály v elektronické podobě

Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)

A: Electronic version of study materials

Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)

http://www.xray.cz/krystalografie/

Poslední úprava: Maixner Jaroslav (13.11.2012)

https://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.html

Poslední úprava: Čejka Jan (20.02.2018)

1. Historie a využití RTG záření.

2. Amorfní a krystalické, makroskopická definice krystalu, makroskopická souměrnost a bodové grupy, mezinárodní značení, minimální prvky.

3. Krystalová soustava=mříž, motiv, centrace, značení uzlů, směrů a rovin.

4. Přímá a reciproká mříž, prostorové grupy včetně šroubových os a skluzných rovin.

5. Izomorfie, polymorfie.

6. Základní teorie difrakce.

7. Atomová amplituda rozptylu.

8. Ewaldova interpretace Braggova zákona, struktur. amplituda, vliv rozmístění atomů.

9. Vznik RTG záření, vlastnosti spojitého a charakteristického spektra.

10. Zdroje RTG záření, monochromatizace a detekce RTG záření.

11. Metody studia práškových a polykrystalických látek.

12. Přesné měření mřížkových parametrů krystalických látek.

13. Kvalitativní fázová analýza.

14. Databázové systémy.

Poslední úprava: SMIDOVAL (14.12.2012)

1. Historical facts and practical applications of X-ray radiation.

2. Amorphous and crystalline materials, macroscopic crystal definition, crystal symmetry and point groups.

3. Crystal systems=lattice, motive, space centering, lattice points, directions and planes.

4. Direct and reciprocal lattice, screw axes, slide planes, space groups.

5. Isomorphism, polymorphism.

6. Basic theory of diffraction.

7. Atomic scattering factor.

8. Ewald demonstration of the Bragg law, structure factor and relation to atomic positions.

9. White(continuous) and characteristic X-ray radiation, its properties.

10. X-ray sources, monochromator techniques and 0D,1D, 2D X-ray detectors.

11. Some application of X-ray techniques in polycrystalline materials.

12. Accurate lattice parameter measurements.

13. Identification of unknown phases - qualitative phase analysis.

14. Crystallographic databases - PDF4+, PDF4-Organics, ICSD, CSD

Poslední úprava: TAJ108 (30.08.2013)

Matematika I

Poslední úprava: Čejka Jan (13.11.2012)

Mathematics I

Poslední úprava: TAJ108 (06.09.2013)

Zátěž studenta
	Činnost	Kredity	Hodiny
	Účast na přednáškách	1	28
	Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi	1	28
	Příprava na zkoušku a její absolvování	1.5	42
	Účast na seminářích	0.5	14
		4 / 4	112 / 112

Hodnocení studenta
Forma	Váha
Ústní zkouška	100