Optická a elektronová mikroskopie - P444010
Anglický název: Optical and Electron Microscopy
Zajišťuje: Ústav fyziky a měřicí techniky (444)
Platnost: od 2019
Semestr: oba
Body: 0
E-Kredity: 0
Způsob provedení zkoušky:
Rozsah, examinace: 3/0 Jiné [hodiny/týden]
Počet míst: zimní:neomezen / neurčen (neurčen)
letní:neurčen / neurčen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Pro druh: doktorské
Poznámka: předmět lze zapsat v ZS i LS
Garant: Vlček Jan Ing. Ph.D.
Z//Je záměnnost pro: AP444010
Termíny zkoušek   
Anotace
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)
Cílem předmětu je teoreticky a prakticky seznámit studenty s aspekty použití optických a elektronových mikroskopů, tak aby je dokázali efektivně využít pro měření. Studenti se seznámí s možnostmi a omezeními, které jednotlivé mikroskopy mají. Naučí se efektivně nastavit pracovní parametry tak aby získali co nejlepší výsledek. Součástí předmětu je i vysvětlení principů automatizované obrazové analýzy.
Výstupy studia předmětu
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.06.2018)

Student bude umět:

Vysvětlit základy elektronové a fotonové optiky, čočky, vady čoček, interakce elektronu s pevnou látkou, principy technik pro přípravu vzorku - naprašování a napařování, principy automatizované obrazové analýzy.

Připravit vzorek na skenovací elektronovou mikroskopii, transmisní elektronovou mikroskopii.

Ovládat optický a skenovací elektronový mikroskop.

Literatura
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304

Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585

Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167

Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769

Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006

Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220

Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859

Studijní opory
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

K dispozici ve studijních oporách na stránkách předmětu:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/cs/elektronicke-pomucky/

Sylabus
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (22.04.2020)

Přednášky:

1. Úvod a základy mikroskopických technik.

2. Limity pro mikroskopické zobrazení.

3. Konstrukční parametry mikroskopů - I. Optické.

4. Konstrukční parametry mikroskopů - II. Konfokální.

5. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - I.

6. Elektronová mikroskopie - interakce elektronů, zdroje elektronů.

7. Vakuová technika pro elektronovou mikroskopii.

8. Konstrukční parametry mikroskopů - III. Elektronové skenovací.

9. Detektory a zdroje záření v mikroskopii - II.

10. EDX a WDX detektory a prvková analýza.

11. Příslušenství SEM mikroskopů – fokusované svazky iontů, manipulátory.

12. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - I.

13. Konstrukční parametry mikroskopů - IV. Elektronové transmisní.

14. Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii - II.

Vstupní požadavky
Poslední úprava: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

nejsou

Studijní prerekvizity
Poslední úprava: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

nejsou

Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: Vrňata Martin prof. Ing. Dr. (04.07.2018)

Ústní zkouška