PředmětyPředměty(verze: 855)
Předmět, akademický rok 2019/2020
  
Optical and Electron Microscopy - AP444010
Anglický název: Optical and Electron Microscopy
Zajišťuje: Ústav fyziky a měřicí techniky (444)
Platnost: od 2019
Semestr: oba
Body: 0
E-Kredity: 0
Způsob provedení zkoušky:
Rozsah, examinace: 3/0 Jiné [hodiny/týden]
Počet míst: zimní:neomezen / neurčen (neurčen)
letní:neurčen / neurčen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Jazyk výuky: angličtina
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Pro druh: doktorské
Poznámka: předmět lze zapsat v ZS i LS
Garant: Vlček Jan Ing. Ph.D.
Záměnnost : P444010
Anotace - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)
Aim of the course is to provide theoretical a practical basics and aspects of using an optical and electron microscopes for an effective application during measurement. Students will see the possibilities and restrictions of both microscopy techniques. They will know how to set optimal parameters for obtaining the best results. This course also includes explanations of automated image analysis.
Výstupy studia předmětu - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

Students will be able to:

  • explain the basics of electron and photon optics, lenses, lenses errors, interaction of electron with solid state, sample preparation principles – sputtering and evaporation, principles of automated image analysis.

  • prepare a sample for scanning electron microscopy, for transmission electron microscopy.

  • operate with optical and scanning electron microscope.

Literatura - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (30.08.2019)

Z: Jerome Mertz, Introduction to Optical Microscopy, Cambridge University Press, 2019, ISBN: 1108428304

Z: Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, 2008, ISBN: 0387347585

Z: Ludwig Reimer, Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer, 1998, ISBN: 3540639764

Z: Kubínek R., Šafářová K., Vůjtek M., Elektronová mikroskopie, Univerzita Palackého v Olomouci - skripta, 2011, ISBN: 978-80-244-2739-3

Z: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R.F. Egerton, Springer Science & Business Media, 2006, ISBN 0387260161, 9780387260167

Z: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Springer, 2017, ISBN 1493966766, 9781493966769

Z: David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer Science & Business Media, 2009, ISBN 038776500X, 9780387765006

Z: Peter Török, Fu-Jen Kao,Optical Imaging and Microscopy: Techniques and Advanced Systems, Springer, 2013, ISBN 3540460225, 9783540460220

Z: Raymond Haynes, Optical Microscopy of Materials, Springer Science & Business Media, 2013, ISBN 147576085X, 9781475760859

Studijní opory - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

Available at course webpages:

https://ufmt.vscht.cz/index.php/en/electronic-aids

Sylabus - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

1. History, theoretical basics, resolution.

2. Optical errors and their compesations.

3. Construction of optical microscope.

4. Construction of confocal microscope.

5. Detectors CCD, CMOS, light sources.

6. Interaction of electron with solid state, electron sources.

7. Basics of vacuum technology, type of vacuum pumps, vacuum gauges.

8. Construction of scanning electron microscope.

9. Detectors in electron microscopy.

10. X-ray analysis, principle of EDX and WDX detectors.

11. Accessories for SEM microscopes – nanomanipulator, FIB.

12. Sample preparation for SEM – sputtering, evaporation, basic rules.

13. Construction of transmission electron microscope.

14. Sample preparation for TEM – basic rules.

Vstupní požadavky - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

N/A

Studijní prerekvizity - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

N/A

Podmínky zakončení předmětu - angličtina
Poslední úprava: Vlček Jan Ing. Ph.D. (28.11.2018)

Oral exam

 
VŠCHT Praha