Povinností studenta je absolvovat písemný test a ústní zkoušení.

It is compulsory to pass a written test and final oral examination.

Z:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864, ISBN: 978-0-444-52259-7, https://www.sciencedirect.com/science/handbooks/0166526X/47 (available online at VSCHT)

Z:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800, ISBN: 978-0-444-50738-9, https://www.sciencedirect.com/science/handbooks/0166526X/42 (available online at VSCHT)

D:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000, Online ISBN: 9780471721642, http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/0471721646 (available online at VSCHT)

D:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982, eISBN: 9780841209411, https://pubs.acs.org/doi/book/10.1021/bk-1982-0199 (available online at VSCHT)

D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

R:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864, ISBN: 978-0-444-52259-7, https://www.sciencedirect.com/science/handbooks/0166526X/47 (available online at VSCHT)

A:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800, ISBN: 978-0-444-50738-9, https://www.sciencedirect.com/science/handbooks/0166526X/42 (available online at VSCHT)

A:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000, Online ISBN: 9780471721642, http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/0471721646 (available online at VSCHT)

A:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982, eISBN: 9780841209411, https://pubs.acs.org/doi/book/10.1021/bk-1982-0199 (available online at VSCHT)

A:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

1. Základní pojmy povrchové a strukturní analýzy

2. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů (XPS, UPS)

3. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů - Augerova spektroskopie

4. Metody elektronové mikroskopie a chemické analýzy (EDX, WDX)

5. Metody rastrovací mikroskopie (AFM, STM, SNOM)

6. Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů (SIMS)

7. Metody rentgenové difrakce

8. Elektronová a neutronová difrakce

9. Metody infračervené a Ramanovy spektrometrie

10. Infračervená a Ramanova mikrospektrometrie, mapování a zobrazování

11. Povrchem zesílená vibrační spektroskopie

12. Spektrometrie NMR a struktura molekul

13. Spektrometrie NMR v pevné fázi

14. NMR analýza v nehomogenních polích, mobilní NMR

1. Fundamental terms of structural and surface analysis

2. Surface analysis methods based on electron detection (XPS, UPS)

3. Surface analysis methods based on electron detection (Auger spectroscopy)

4. Methods of electron microscopy and chemical analysis (EDX, WDX)

5. Methods of scanning probe microscopy (AFM, STM, SNOM)

6. Surface analysis methods based on ion detection (SIMS)

7. Methods of X-ray diffraction

8. Electron and neutron diffraction

9. Techniques of infrared and Raman spectrometry

10. Infrared and Raman microspectrometry, mapping and imaging

11. Surface-enhanced vibrational spectroscopies

12. NMR spectroscopy and molecular structure

13. Solid-state NMR spectroscopy

14. NMR analysis in inhomogeneous fields, mobile NMR

presentace k přednáškám - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch

electronic materials - slides for lectures - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch

Studenti budou umět:

Popsat a vysvětlit principy a instrumentaci následujících metod: fotoelektronová spektroskopie, Augerova spektroskopie, rentgenová fluorescenční analýza, elektronová mikroskopie, mikroskopie skenující sondou, rentgenová, elektronová a neutronová difrakce, hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, infračervená a Ramanova mikrospektrometrie a NMR spektrometrie/relaxometrie se zaměřením na tuhou fázi.

Pro jednotlivé uvedené techniky uvést příklady praktických aplikací.

Students will be able to:

Describe and explain the principles and instrumentation of following techniques: photoelectron spectroscopy, Auger spectroscopy, X-ray fluorescence analysis, electron microscopy, scanning probe microscopy, X-ray, electron and neutron diffraction, secondary ion mass spectrometry, infrared and Raman microspectrometry and NMR spectrometry/relaxometry focusing on solids.

Know examples of practical applications of individual techniques of structural and surface analysis.

žádné

none