|
|
|
||
V současnosti prudce se rozvíjející obory nanotechnologie kladou vysoké požadavky na teoretické znalosti aplikovatelné v oborech elektroniky či kvantové mechaniky, ale také na metody, kterými lze nanostruktury analyzovat. Úkolem předmětu je seznámit posluchače s analýzami povrchu nanostruktur, jejich chemického složení a jiných fyzikálně chemických parametrů. Posluchači se seznámí s metodami optickými, využívajícími elektronový svazek, spektroskopickými iontovými a termodynamickými. Součástí je také ukázka sondových mikroskopických technik s možností určení nanostruktur o rozměrech ca 1 nm.
Poslední úprava: Hladíková Jana (04.01.2018)
|
|
||
Studenti budou umět: Rozdělení a základní charakteristiku optických metod Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících elektronový svazek Rozdělení a základní charakteristiku spektroskopických metod Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících pevnolátkové sondy Rozdělení a základní charakteristiku iontových a termodynamických metod Poslední úprava: Hladíková Jana (04.01.2018)
|
|
||
Písemná zkouška (100%). Poslední úprava: Slepička Petr (20.02.2018)
|
|
||
Z: Hornyak, G.L., Introduction to Nanoscience, Chapter 3. Characterization Methods, CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6. Z: Cao,G.: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159. Z: Williams, W.D., Carter, C.B., Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Materials Science, Springer ScienceţBusiness Media 2009, ISBN 978-0-387-76500-6 Z: Stuart, B. Analytical techniques in materials conservation, John Wiley & Sons Ltd, England, 2007, ISBN 978-0 470-01280-2 Poslední úprava: Michalcová Alena (10.01.2018)
|
|
||
Probraná látka je pravidelně opakována a diskutována se studenty na přednáškách. Tímto způsobem je zajištěna průběžně kontrola úrovně znalostí studentů a srozumitelnosti přednášené látky. Pro posouzení úrovně znalostí a udělení známky se vyžaduje úspěšné absolvování písemného testu na závěr semestru. Poslední úprava: Hladíková Jana (04.01.2018)
|
|
||
1. Úvod, přehled metod z hlediska fyzikálních principů, přehled metod z hlediska sledovaných vlastností. 2. RTG difrakce a absorpční spektroskopie (XRD, SAXS, XAS, EXAFS-XANES-NEXAFS). 3. Elektronová difrakce (LEED, RHEED). 4. Elektronové mikroskopie (SEM, EPMA, EDS, TEM, SAED). 5. Objemová, plošná a povrchová rezistivita materiálů, metodika měření. 6. Hallův jev, využití vodivostních a Hallovských měření k analytickým účelům. 7. Mikroskopie se vzorkovací sondou (STM, AFM). 8. Metody založené na detekci iontů (SIMS) a jaderné metody (RBS, ERDA, PIXE). 9. Spektroskopické metody I(XPS, AES). 10. Spektroskopické metody II (FTIR, RS, SERS). 11. Metody pro stanovení velikosti a distribuce velikosti nanočástic. 12. Metody termické analýzy a kalorimetrie (DTA/DSC, rozpouštěcí kalorimetrie). 13. Povrchové vlastnosti, stanovení povrchové energie (goniometrie), elektrokinetická analýza 14. Stanovení fyzikálně-chemických charakteristik (stanovení hustoty, viskozity; odhadové metody). Poslední úprava: Hladíková Jana (04.01.2018)
|
|
||
http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=1334 https://www.iic.cas.cz/~grygar/mapl.htm
Výukové materiály k přednáškám k dispozici u vyučujícího. Poslední úprava: Michalcová Alena (10.01.2018)
|
|
||
N126026 Základy nanomateriálů Poslední úprava: Hladíková Jana (04.01.2018)
|
Zátěž studenta | ||||
Činnost | Kredity | Hodiny | ||
Konzultace s vyučujícími | 0.5 | 14 | ||
Účast na přednáškách | 1 | 28 | ||
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi | 0.5 | 14 | ||
Příprava na zkoušku a její absolvování | 1 | 28 | ||
3 / 3 | 84 / 84 |
Hodnocení studenta | |
Forma | Váha |
Zkouškový test | 100 |