Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (13.11.2012)
V současnosti prudce se rozvíjející obory nanotechnologie kladou vysoké požadavky na teoretické znalosti aplikovatelné v oborech elektroniky či kvantové mechaniky, ale také na metody, kterými lze nanostruktury analyzovat. Úkolem předmětu je seznámit posluchače s analýzami povrchu nanostruktur, jejich chemického složení a jiných fyzikálně chemických parametrů. Posluchači se seznámí s metodami optickými, využívajícími elektronový svazek, spektroskopickými iontovými a termodynamickými. Součástí je také ukázka sondových mikroskopických technik s možností určení nanostruktur o rozměrech ca 1 nm.
Poslední úprava: TAJ126 (28.11.2013)
Currently the rapidly developing fields of nanotechnology have high requirements for theoretical knowledge applicable in the fields of electronics or quantum mechanics, but also on methods by which you can analyze nanostructures. The course objective is to familiarize students with the analysis of the surface nanostructures, their chemical composition and other physico-chemical parameters. Students will learn the optical, utilizing electron beam, ion spectroscopic and thermodynamic methods. It also includes an introduction of probe microscopy techniques with the determination of nanostructures with dimensions ca 1 nm.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (13.11.2012)
Studenti budou umět:
Rozdělení a základní charakteristiku optických metod
Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících elektronový svazek
Rozdělení a základní charakteristiku spektroskopických metod
Rozdělení a základní charakteristiku metod využívajících pevnolátkové sondy
Rozdělení a základní charakteristiku iontových a termodynamických metod
Poslední úprava: TAJ126 (24.09.2013)
Students will be able to: present:
Present distribution and basic characteristics of optical methods.
Present classification and basic characteristics of the methods using an electron beam.
Present classification and basic characteristic of spectroscopic methods.
Present classification and basic characteristics of the methods using solid-state probes.
Present classification and basic characteristics of ion and thermodynamic methods.
Literatura -
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (13.11.2012)
Z: Hornyak, G.L., Introduction to Nanoscience, Chapter 3. Characterization Methods, CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.
Z: Cao,G.: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159.
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (03.01.2016)
R: Hornyak, G.L., Introduction to Nanoscience, Chapter 3. Characterization Methods, CRC Press, 2008, ISBN 978-4200-4805-6.
R: Cao,G.: Nanostructures & Nanomaterials: Synthesis, Properties & Applications, Chapter 8. Characterization and Properties of Nanomaterials, Imperial College Press, London, 2004, ISBN 1-86094-4159.
S.K. Kulkami: Nanotechnology: Principles and Practices (403 pp). Springer (2015), ISBN 978-3-319-09170-9.
Studijní opory -
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (31.08.2013)
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (31.08.2013)
Probraná látka je pravidelně opakována a diskutována se studenty na přednáškách. Tímto způsobem je zajištěna průběžně kontrola úrovně znalostí studentů a srozumitelnosti přednášené látky.
Pro posouzení úrovně znalostí a udělení známky se vyžaduje úspěšné absolvování písemného testu na závěr semestru.
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (31.08.2013)
Subject matter is regularly repeated and discussed with students at lectures. This ensures the continuous control level of students' knowledge and clarity of lectures. The assessment of knowledge level and grading requires successful completion of a written test at the end of the semester.
Sylabus -
Poslední úprava: Slepička Petr prof. Ing. Ph.D. (15.11.2012)
1. Úvod, přehled metod z hlediska fyzikálních principů, přehled metod z hlediska sledovaných vlastností.
2. RTG difrakce a absorpční spektroskopie (XRD, SAXS, XAS, EXAFS-XANES-NEXAFS).
3. Elektronová difrakce (LEED, RHEED).
4. Elektronové mikroskopie (SEM, EPMA, EDS, TEM, SAED).
5. Objemová, plošná a povrchová rezistivita materiálů, metodika měření.
6. Hallův jev, využití vodivostních a Hallovských měření k analytickým účelům.
7. Mikroskopie se vzorkovací sondou (STM, AFM).
8. Metody založené na detekci iontů (SIMS) a jaderné metody (RBS, ERDA, PIXE).
9. Spektroskopické metody I(XPS, AES).
10. Spektroskopické metody II (FTIR, RS, SERS).
11. Metody pro stanovení velikosti a distribuce velikosti nanočástic.
12. Metody termické analýzy a kalorimetrie (DTA/DSC, rozpouštěcí kalorimetrie).
13. Povrchové vlastnosti, stanovení povrchové energie (goniometrie), elektrokinetická analýza
