Credit – evaluation of powder pattern with program HighScore Plus 3.0

Examination – written part - test, structure solution with program HighScore Plus 3.0, oral part

Hahn, T.: International tables for crystallography, 1983. ISBN:90-277-1445-2

Hahn, T.: International tables for crystallography, 1983. ISBN:90-277-1445-2

Posluchači si vybírají z uvedených úloh k řešení:

1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus.

2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu.

3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku.

4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf.

5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD.

6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD.

7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep.

Students choose one of exercises mentioned below to solving:

1. Calculation of theoretical powder pattern from structural data(X,Y,Z atomic positons) using PDF4+ card or *.CIF file from ICSD or CSD - performed in program HighScore Plus 3.0.

2. Application of Rietveld analysis for quantitative phase determination

3. Application of Rietveld analysis for amorphous content determination.

4. Crystallite size determination, Hall-Williamson graph.

5. Search-match in Inorganic Crystal Structure Database(ICSD) - inorganic compounds, getting structural data as *.CIF file.

6. Search-match in Cambridge Structural Database(CSD) - organic compounds, getting structural data as *.CIF file.

7. Graphical presentation of structure - programs Mercury and Ortep.

http://www.xray.cz/krystalografie/

https://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.html

Studenti budou umět:

Vyhledávat v databázi CSD a ICSD, vypočítat teoretický práškový difraktogram, kvantitativní fázovou analýzu Rietveldovou metodou, stanovit amorfní podíl v práškovém vzorku, stonovit velikost krystalitů.

Students will be able to:

perform search in the databases ICSD and CSD;

calculate theoretical powder pattren from structural data(X,Y,Z atomic positons);

perform Rietveld analysis for quantitative phase determination, amorphous content determination, crystallite size determination.