|
|
|
||
|
Tento předmět podává přehled o metodách charakterizace nanočástic a nanomateriáů, včetně nanokompozitů, nanokrystalických a nanoporézních materiálů. V první části jsou vysvětleny základní pojmy a klasifikace související s charakterizací nanomateriálů a nanočástic, a to včetně statistiky malých částic. Dále je navázáno kapitolou o elektromagnetickém záření a jeho interakcí s materiály a částicemi, což tvoří teoretický základ velké části dále probíraných metod charakterizace. Jako první jsou představeny metody založené na rozptylu světla a difrakci, dále jsou probírány metody charakterizace specifického povrchu a pórového prostoru (metoda BET a rtuťová porozimetrie), mikroskopie (SEM, TEM, AFM), charakterizace chemického složení (XRF, EDX, XPS, SIMS) a trojrozměrné zobrazovací techniky (FIB-SEM, elektronová 3D tomografie). V další sekci jsou studenti seznámeni s mikroskopickou obrazovou analýzou a jejím vyhodnocováním, popisem struktury povrchů a rozhraní zrn, strukturními defekty a jejich vlivem na vlastnosti materiálů a se základy efektivních vlastností materiálů a jejich modelování. Součástí tohoto předmětu je také exkurze po pracovištích a praktické ukázky vybavení pro charakterizaci nanomateriálů a nanočástic. Poslední úprava: Unger Uhlířová Tereza (14.02.2024)
|
|
||
|
Zkouškový test (100 %) V případě, že student nebude spokojen se známkou z písemné zkoušky, domluví si opravnou ústní zkoušku. Poslední úprava: Unger Uhlířová Tereza (14.02.2024)
|
|
||
|
Povinná:
Doporučená:
Poslední úprava: Unger Uhlířová Tereza (05.08.2024)
|
|
||
|
písemná zkouška Poslední úprava: Unger Uhlířová Tereza (14.02.2024)
|
|
||
|
1. Nanočástice, nanokompozity, nanozrna a nanopóry (makro-, mezo-, mikropóry), jejich velikost, tvar a mikrostruktura 2. Statistika malých částic 3. Elektromagnetické záření a základy souvisejících metod 4. Určení rozdělení velikosti částic laserovou difrakcí (LD), dynamickým rozptylem světla (DLS), elektroforetický rozptyl světla (ELS) a optické čítání částic (OPC) 5. Určení velikosti krystalitů rentgenovou difrakcí a rentgenová fázová analýza (XRD) 6. Maloúhlový rozptyl (SAXS, SANS), synchrotron 7. Charakterizace specifického povrchu a pórového prostoru (metoda BET a rtuťová porozimetrie) 8. Mikroskopické techniky (SEM, TEM, AFM) 9. Charakterizace chemického složení (XRF, EDX, XPS, SIMS) 10. Trojrozměrné zobrazovací techniky (FIB-SEM, 3D tomografie a její limity) 11. Mikroskopická obrazová analýza nanočástic, nanokompozitů, nanokrystalických a nanoporézních materiálů 12. Struktura povrchů a rozhraní zrn, strukturní defekty a jejich vliv na vlastnosti materiálů 13. Základy efektivních vlastností materiálů a jejich modelování včetně závislosti na velikosti zrn 14. Exkurze po laboratořích Poslední úprava: Unger Uhlířová Tereza (14.02.2024)
|