PředmětyPředměty(verze: 855)
Předmět, akademický rok 2019/2020
  
Spektroskopické metody studia pevných látek - D107004
Anglický název: Spectroscopical Methods for Study of Solids
Zajišťuje: Ústav skla a keramiky (107)
Platnost: od 2015
Semestr: oba
Body: 0
E-Kredity: 0
Způsob provedení zkoušky:
Rozsah, examinace: 0/0 Jiné [hodiny/týden]
Počet míst: zimní:neurčen / neurčen (neurčen)
letní:neurčen / neurčen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Pro druh:  
Poznámka: předmět je určen pouze pro doktorandy
student může plnit i v dalších letech
předmět lze zapsat v ZS i LS
Garant: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc.
Je záměnnost pro: AP107002, P107002
Anotace -
Poslední úprava: VED107 (18.04.2014)
Předmět zahrnuje metody elektronové, rentgenové a iontové spektroskopie, elektronové a hrotové mikroskopie a detektory a analyzátory. Důraz je kladen na principy spektroskopických metod a teoretický popis významných fyzikálních jevů se spektroskopiemi souvisejícími.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: VED107 (18.04.2014)

Studenti budou umět:

Popsat a vysvětlit fyzikální jevy, na nichž jsou spektroskopie a mikroskopie založené.

Navrhnout vhodnou mikroskopickou nebo spektroskopickou metodu pro získání specifické informace o materiálu.

Zvolit vhodné analytické podmínky (detektor, analyzátor, primární zdroj, příprava vzorku).

Literatura -
Poslední úprava: VED107 (18.04.2014)

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852

Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2

Z: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0

Z: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8

D: Vybrané publikace a webové odkazy

Sylabus -
Poslední úprava: VED107 (18.04.2014)

Spektrum, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, fotoefekt.

Fyzika atomu, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. Elektronové a atomové hladiny, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.

Transmisní elektronová mikroskopie, princip, typy kontrastů, příprava vzorků.

Rastrovací elektronová mikroskopie, princip, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.

Rtg. mikroanalýza, princip, korekční metody.

Rtg fluorescence, princip, korekční metody.

Povrch - vznik, struktura a vlastnosti. XPS a UV XPS, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie.

Augerova spektroskopie, princip, Augerova mikroskopie.

SIMS pro pevnou fázi, rozptyl iontů, kinematický faktor, rozprašovací výtěžnost, SNMS.

PIXE, RBS a další iontové spektroskopie, rozptyl nízkoenergetických iontů.

Hrotové metody, principy. STM, AFM, SNOM.

Difrakce fotonů, elektronů a neutronů. Strukturní faktor. LEED, EBSD, XRD, ND.

Vakuum a vakuová zařízení. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF.

Podmínky zakončení předmětu -
Poslední úprava: VED107 (18.04.2014)

Ústní zkouška.

Hodnocení studenta
Forma Váha
Ústní zkouška 100

 
VŠCHT Praha