PředmětyPředměty(verze: 853)
Předmět, akademický rok 2019/2020
  
Metody charakterizace látek - N107004
Anglický název: Spectroscopic and Microscopic Methods for Characterization of Materials
Zajišťuje: Ústav skla a keramiky (107)
Platnost: od 2014
Semestr: letní
Body: letní s.:5
E-Kredity: letní s.:5
Způsob provedení zkoušky: letní s.:
Rozsah, examinace: letní s.:3/1 Z+Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neurčen / neurčen (neurčen)
Minimální obsazenost: neomezen
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Úroveň:  
Pro druh:  
Poznámka: předmět je možno zapsat mimo plán
povolen pro zápis po webu
Garant: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc.
Termíny zkoušek   Rozvrh   
Anotace -
Poslední úprava: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc. (15.11.2012)
Předmět seznamuje se základními mikroskopickými a spektroskopickými metodami používanými pro charakterizaci materiálů. Součástí předmětu je vybudování základního energetického obrazu atomů, molekul a pevných látek, fyzikální principy metod, provázání metod s přístroji a příprava vzorků.
Výstupy studia předmětu -
Poslední úprava: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc. (15.11.2012)

Studenti budou umět:

Popsat energetické hladiny atomu a pevné látky

Navrhnout mikroskopickou nebo spektroskopickou metodu pro získání specifické informace o materiálu

Zvolit vhodné analytické podmínky (detektor, analyzátor, primární zdroj, příprava vzorku)

Literatura -
Poslední úprava: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc. (06.08.2013)

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852

Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2

D: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0

D: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8

Studijní opory -
Poslední úprava: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc. (05.08.2013)

Přednášky v elektronické formě

Sylabus - angličtina
Poslední úprava: VED107 (06.08.2013)

1. Spectrum and its origin, spectroscopic and microscopic methods, cross section, properties of particles and radiation.

2. Elastic and inelastic cross section, Compton scattering, photoelectric effect.

3. Quantum mechanics of atom, hydrogen atom, electron-electron and spin-orbital interaction, splitting of spectral lines.

4. Electron energy levels, atom terms, selection rules, energy bands in solid, Bloch function, quantum tunnelling.

5. Transmission electron microscopy, contrast, bright-field a dark-field observation, sample preparations.

6. Scanning electron microscopy, contrast, backscattered and secondary electrons, sample preparations.

7. Electron microprobe analysis, EDS and WDS configuration, principle of method, qualitative and quantitative analysis, correction methods, mapping. X-ray fluorescence spectroscopy.

8. Formation, structure, and properties of the surface. Photoelectron spectroscopy, principle of the method, satellite lines, angle-resolved spectroscopy, ultraviolet photoelectron spectroscopy. Auger spectroscopy, Auger microscopy.

9. Secondary Ion Mass spectrometry for solid, ion scattering, kinematic factor, sputtering yield, ionization probability, depth profiling, SNMS.

10. Other ion methods, channelling, proton induced X-ray emission spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy, low energy ion spectroscopy.

11. Probe microscopies and their principles. Scanning tunnelling microscopy, atomic force microscopy, near-field optical microscopies.

12. Diffraction methods, diffraction of photons, electrons and neutrons. Structural factor. LEED and EBSD, neutron diffraction, X-ray diffraction, powder diffraction.

13. Vacuum and vacuum instruments. Vacuum measuring and pumps. Particle sources for photons, electrons, ions, and neutrons.

14. Detectors and analysers. Ionization chamber, crystal spectrometer, energy dispersive detector, scintillator, hemispherical analyser, quadrupole mass analyser, time-of-flight analyser, other detectors and analysers.

Studijní prerekvizity -
Poslední úprava: Gedeon Ondrej prof. RNDr. Ph.D., DSc. (05.08.2013)

Matematika II

Fyzika I

Zátěž studenta
Činnost Kredity Hodiny
Účast na přednáškách 1,5 42
Příprava na přednášky, semináře, laboratoře, exkurzi nebo praxi 1 28
Příprava na zkoušku a její absolvování 2 56
Účast na seminářích 0,5 14
5 / 5 140 / 140
Hodnocení studenta
Forma Váha
Zkouškový test 80
Ústní zkouška 20

 
VŠCHT Praha