Studenti budou umět:

Popsat a vysvětlit principy a instrumentaci následujících metod: fotoelektronová spektroskopie, Augerova spektroskopie, rentgenová fluorescenční analýza, elektronová mikroskopie, mikroskopie skenující sondou, rentgenová, elektronová a neutronová difrakce, hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, infračervená a Ramanova mikrospektrometrie a NMR spektrometrie/relaxometrie se zaměřením na tuhou fázi.

Pro jednotlivé uvedené techniky uvést příklady praktických aplikací.

Students will be able to:

Describe and explain the principles and instrumentation of following techniques: photoelectron spectroscopy, Auger spectroscopy, X-ray fluorescence analysis, electron microscopy, scanning probe microscopy, X-ray, electron and neutron diffraction, secondary ion mass spectrometry, infrared and Raman microspectrometry and NMR spectrometry/relaxometry focusing on solids.

Know examples of practical applications of individual techniques of structural and surface analysis.

Z:Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)

Z:Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)

D:R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)

D:L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)

D:Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar: Materials Characterization Techniques, CRC Press Boca Raton 2009, ISBN 978-1-4200-4294-8

R: R.L. McCreery: Raman Spectroscopy for Chemical Analysis, Wiley 2000 (available online at VSCHT)

Modern Instrumental Analysis, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 47 (2006), p. 1-864 (available online at VSCHT)

A: Non-Destrictive Microanalysis of Cultural Heritage materials, ed. S. Ahuja, N. Jespersen, Comprehensive Analytical Chemistry Vol. 42 (2004), p. 1-800 (available online at VSCHT)

A: L. A. Casper, C. J. Powell: Industrial Applications of Surface Analysis, vol. 199, ACS 1982 (available online at VSCHT)

1. Základní pojmy povrchové a strukturní analýzy

2. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů (XPS, UPS)

3. Metody povrchové analýzy založené na detekci elektronů - Augerova spektroskopie

4. Metody elektronové mikroskopie a chemické analýzy (EDX, WDX)

5. Metody rastrovací mikroskopie (AFM, STM, SNOM)

6. Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů (SIMS)

7. Metody rentgenové difrakce

8. Elektronová a neutronová difrakce

9. Metody infračervené a Ramanovy spektrometrie

10. Infračervená a Ramanova mikrospektrometrie, mapování a zobrazování

11. Povrchem zesílená vibrační spektroskopie

12. Spektrometrie NMR a struktura molekul

13. Spektrometrie NMR v pevné fázi

14. NMR analýza v nehomogenních polích, mobilní NMR

1. Fundamental terms

2. Structure and geometry of molecules

3. Symmetry, point groups

4. Linear and circular polarized electromagnetic radiation, chirooptical methods

5. Infrared and Raman spectroscopy

6. Microwave spectroscopy

7. NMR spectrometry

8. Mass spectrometry

9. Crystal structure

10. X-ray and electron diffraction

11. Surface analysis methods based on electron detection

12. Surface analysis methods based on ion detection

13. Surface analysis methods based on photon detection

14. Scanning microscopy methods

presentace k přednáškám - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch

electronic materials - slides for lectures - http://www.vscht.cz/anl/matejka/#povrch

žádné

none