Předmět zahrnuje metody elektronové, rentgenové a iontové spektroskopie, elektronové a hrotové mikroskopie a detektory a analyzátory. Důraz je kladen na principy spektroskopických metod a teoretický popis významných fyzikálních jevů se spektroskopiemi souvisejícími.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (18.04.2018)
The course covers X-ray, electron, and ion spectroscopies, electron and tip microscopies, and detectors and analysers. The stress is put on principles and theoretical description of fundamental phenomena governing the spectroscopies and microscopies.
Poslední úprava: Pátková Vlasta (18.04.2018)
Podmínky zakončení předmětu (Další požadavky na studenta) -
Ústní zkouška.
Poslední úprava: Kubová Petra (06.06.2018)
Oral exam.
Poslední úprava: Kubová Petra (06.06.2018)
Literatura -
Povinná:
Concepts of modern physics, Beiser, Arthur, 1973
Materials characterization, Leng, Yang, 2008
Doporučená:
Physical principles of electron microscopy, an introduction to TEM, SEM, and AEM, Egerton, R., 2005
Scanning Electron Microscopy, Reimer, Ludwig, 1998
Mass Spectrometry, de Hoffmann, Edmond; Stroobant, Vincent , 2007
Poslední úprava: Gedeon Ondrej (06.08.2024)
Obligatory:
Concepts of modern physics, Beiser, Arthur, 1973
Materials characterization, Leng, Yang, 2008
Recommended:
Physical principles of electron microscopy, an introduction to TEM, SEM, and AEM, Egerton, R., 2005
Scanning Electron Microscopy, Reimer, Ludwig, 1998
Mass Spectrometry, de Hoffmann, Edmond; Stroobant, Vincent, 2007
Poslední úprava: Gedeon Ondrej (06.08.2024)
Metody výuky -
Přednášky, konzultace.
Poslední úprava: Kubová Petra (06.06.2018)
Lectures, tutorials.
Poslední úprava: Kubová Petra (06.06.2018)
Sylabus -
Spektrum, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, Rutherfordův rozptyl, fotoefekt.
Fyzika atomu, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. Elektronové a atomové hladiny, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.
Transmisní elektronová mikroskopie, princip, typy kontrastů, příprava vzorků.
Rastrovací elektronová mikroskopie, princip, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.
Rtg. mikroanalýza, princip, korekční metody.
Rtg. fluorescence, princip, korekční metody.
Povrch - vznik, struktura a vlastnosti. XPS a UV XPS, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie.
Vakuum a vakuová zařízení. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF.
Poslední úprava: Kubová Petra (06.06.2018)
Spectrum, cross section, properties of particles and radiation. Elastic and inelastic cross section, Compton scattering, Rutherford scattering, photoelectric effect.
Physics of of atom, electron-electron and spin-orbital interactions, splitting of spectral lines. Electron and atom energy levels, selection rules, energy bands in solid, Bloch function, quantum tunnelling.
Transmission electron microscopy, principles, contrast, sample preparations.
Scanning electron microscopy, principles, backscattered and secondary electrons, sample preparations.
Electron microprobe analysis, principle of the method, correction methods.