Studenti budou umět:

Orientace v základní krystalografii. Zpracování a vyhodnocení difraktogramů v programu Highscore.

Students will be able to:

apply basic crystallographic knowledge;

evaluate powder patterns using HighScore Plus 3.0 program.

Credit – evaluation of powder pattern with program HighScore Plus 3.0

Examination – written part - test, evaluation of powder pattern with program HighScore Plus 3.0, oral part

Hahn, T.: International tables for crystallography, 1983. ISBN:90-277-1445-2

Hahn, T.: International tables for crystallography, 1983. ISBN:90-277-1445-2

1. Historie a využití RTG záření.

2. Amorfní a krystalické, makroskopická definice krystalu, makroskopická souměrnost a bodové grupy, mezinárodní značení, minimální prvky.

3. Krystalová soustava=mříž, motiv, centrace, značení uzlů, směrů a rovin.

4. Přímá a reciproká mříž, prostorové grupy včetně šroubových os a skluzných rovin.

5. Izomorfie, polymorfie.

6. Základní teorie difrakce.

7. Atomová amplituda rozptylu.

8. Ewaldova interpretace Braggova zákona, struktur. amplituda, vliv rozmístění atomů.

9. Vznik RTG záření, vlastnosti spojitého a charakteristického spektra.

10. Zdroje RTG záření, monochromatizace a detekce RTG záření.

11. Metody studia práškových a polykrystalických látek.

12. Přesné měření mřížkových parametrů krystalických látek.

13. Kvalitativní fázová analýza.

14. Databázové systémy.

1. Historical facts and practical applications of X-ray radiation.

2. Amorphous and crystalline materials, macroscopic crystal definition, crystal symmetry and point groups.

3. Crystal systems=lattice, motive, space centering, lattice points, directions and planes.

4. Direct and reciprocal lattice, screw axes, slide planes, space groups.

5. Isomorphism, polymorphism.

6. Basic theory of diffraction.

7. Atomic scattering factor.

8. Ewald demonstration of the Bragg law, structure factor and relation to atomic positions.

9. White(continuous) and characteristic X-ray radiation, its properties.

10. X-ray sources, monochromator techniques and 0D,1D, 2D X-ray detectors.

11. Some application of X-ray techniques in polycrystalline materials.

12. Accurate lattice parameter measurements.

13. Identification of unknown phases - qualitative phase analysis.

14. Crystallographic databases - PDF4+, PDF4-Organics, ICSD, CSD

http://www.xray.cz/krystalografie/

https://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRD.html